NO.1案例背景某摄像头模组,在生产测试过程中发生功能不良失效,经过初步的分析,判断可能是LGA封装主芯片异常。NO.2分析过程#1X-ray分析【样品#1】【样品#2】测试结果:两个失效样品LGA焊接未发现明显异常。#2染色分析测试结果:样品1将LGA染色试验剥离后,发现焊点多数存在锡量较少的现象,焊接面积小;少数呈现为无焊锡结合,可以确认为虚焊不良。#3断面分析【锡少导致的未焊锡】【仅有部分焊接】测试结果:样品2进行断面分析,LGA多处虚焊不良与焊盘锡量少,呈虚焊现象。#4SEM分析测试结果:对失效焊点进行SEM分析,PCB焊盘上已形成IMC层,焊盘沾有极少量焊锡,器件焊盘无焊锡附着。测试