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PCIe_TX/RX测试步骤

槐 三 2023-04-08 原文

TX测试

一:  GEN1、2、3采用自动化测试：

1. 点击infinum软件中Analyze->Automated Test Apps->D9050PCIC PCIExpress Gen5 Test App，进入自动化测试界面；

 

2. Set Up窗口：PCIE5.0->CEM-End Point Tests->Device Definition->勾选5G的-3.5dB&-6dB->选择8G的P0

3. Select Test界面将Device Definition设置的测试项全部勾选：

4. Run界面，点击Run按钮；注意示波器屏幕弹窗提醒，确认对应的速率，按CEM板卡上按键使测试的码型和实际速率保持一致。

5. GEN3_P01~P10同样用自动化测试，将第2步的Device Definition中仅选择P01~P10，点击Run，按CEM板卡上按键使测试的码型和实际速率保持一致。

6.测试自动结束，导出Report PDF版本。

二：  GEN4_P01~P10采用手动测试

  1. CEM板卡上Lanexx_P接示波器通道1，N接通道3；点示波器的autotest
  2. 点击Set up,设置Channel1+3差模有效，共模无效；设置带宽25G；
  3. 设置采样率80G，采样深度，采样时间；
  4. 通过第3步将200w个波形刚好呈现在屏幕中，保存成bin文件；
  5. 打开sigtest软件，导入bin文件，生成Report。

RX测试：

硬件环境：

误码仪M9070的TX->ISI pair24（选择哪个pair是经过校准后得到的）->CEM RX->add in card(1BF) ->CEM TX->误码仪的RX； 1BF板卡启动模式为XIP，可以PCIe启动并接CVD进行寄存器修改；

打开软件->setup->点击break+testart->当软件界面误码一栏的灯不亮+误码仪TX P9码型和1BF TX的P5码型均显示True时，表示1BF板卡成功连上了。

点击measurement->error ratio test进行为时1min的测试，误码≤1表示测试通过。

还可进行自动化测试，可测RX3项：compliace  LEQ compliance  LEQ Jitter Tolerance

2022.10.27是德科技实验室RX测试手记--

PCIe双芯板：1、上电码型为Gen1; 2、去掉一根RX的P或N就可以/电阻位加100或50Ω也可以测试通过；

更换为PCIe5的夹具板后1 2 问题不再复现。

对单芯板进行PWJ测试：码型上 抓第2个sine波，示波器关键步骤：25G->1+3channel->80M->14us时域长度->勾选off sinewave

RX的Gen3/4/5夹具各不相同，因为损耗不同，Gen4/5夹具板的板材不同

M8040误码仪：

软件：Station Config~，配置软件

原始信号autoscale调好以后再改差模会准确，减小失真（适用平时示波器进行AC Timing分析）

误码仪RX测试环境的搭建：

 双芯板RX进不到loopback，软件显示2.5G信号时有时无，去掉ISI上cable线(为了降低损耗)仍fail,再测可以进入loopback；但RX test可以进入loopback不能表示信号OK，还要看误码率指标E12≤1。

单芯板lane15没加ISI损耗 出报告（lane15的走线最短，Lane0 最长）BER:10的-9次方

关掉共模后误码率测试pass

打开共模，调节Voltage：300mV pass；400mV是临界值，开始有误码。

结论：单芯板lane15的共模降到400mV以下 RX Test就pass

误码仪以及其他信号源无静电防护设施，使用时先关掉Global output，再换输出端子；单芯板lane0有时可以进到loopback（进入到loopback后才可以测到RX的test case），表现为Data1

->4 OK。

双芯板lane0 RX Test：

步骤：1.M8070B 软件初始化3min；

2.可以进到loopback（无ISI，P5码型），近端会选P5，信号最好；

3.加ISI：Pair23，每次更改要将软件初始化 ，远端trace变长，选P9；进不到loopback,误码较多；

4.尝试改共模：降到200mV，误码明显减少；100mV无误码，pass（跑了3次也有1~5个误码但很少）

软件中共模标定值520mV，误码仪会将此共模信号加进RX路径中。

单芯板lane15(走线最短)加ISI pair23测RX： 测试过程记录----

修改CMD FW寄存器

1.进不去loopback

2.换成双芯lane15后可以进到loopback(环境与1一致)，返回1的环境

3.单芯板lane15（加ISI）RX出报告->进不去loopback（training阶段）->关掉Training的共模->进不去loopback->修改寄存器->可以进到loopback->加回ISI pair23->在training中下调共模，找到的码型是P5（不是P9）->再试1次是P9，还是会跳出loopback->软件重新training后解决，不再跳出loopback； 但TX信号不好，但可以测试了（进入loopback后才可开始测试）

（环境：关掉共模，有噪声源（差模sj rj）给到RX时，误码率为0（2min内），打开共模200mV->Margin有误码->继续测试，修改CMD，不减小共模（保持540mV），进行RX test：1次fail,2次进到loopback，但进到P6）->再测双芯lane0+ISI+共模520mV：信号很差误码多；去掉共模pass。

熟读《PCIe_5.0_PHY_Test_Spec_Ver1.0》文档

PCIe_TXPCIexffxff0ctext-align硬件工程

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