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ADC采样

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SAR型ADC结构原理

      SAR型ADC,即逐次渐进逼近型ADC,采用的是多次比较的方式来获得最终的输出结果,具有简单易用,功耗低的特点。下图这个结构可以帮助我们容易地理解SAR型ADC的工作过程:       如上图,假设输入信号的伪代码为45,ADC为一个6位的ADC,满量程输出为63。1.在采样阶段,ADC将输入信号采样至采样保持器(S/H)中并保持住,即此时S/H中的值为45,请记住S/H中实际是一个模拟电压,45是我们给它定义的代表它大小的伪代码;2.接下来,在转换的第一个时钟上升沿,SAR寄存器首先将最高位至1,即把32(半个满量程),送给一个DA转换器,DA转换器输出的模拟信号和S/H中的模拟

解决UGUI的图集导致Shader采样时UV错误的问题

大家好,我是阿赵。在我们用UGUI的时候,很多时候需要通过在UI上面挂材质球,写Shader,来实现一些特殊的效果。这里句一个很简单的例子,只为说明问题。一、简单例子说明这个例子是这样的,我想在某个Image上面加一个渐变遮罩,只显示角色的头像。这里我准备了一张角色贴图,然后根据角色头像的位置画了个遮罩。接下来的实现很简单,通过图片的UV采样遮罩贴图,然后和原来的图片叠加透明度,之后就得到了这样的效果:这个例子的shader是这样的:Shader"azhao/UIAlphaMask"{ Properties { [PerRendererData]_MainTex("SpriteTexture

搭建stm32电机控制代码框架(三)——Stm32CubeMx配置ADC采样

电机控制另一个关键的模块就是ADC采样,这个模块配置的好坏决定了采样电流和电压的精准度,因此有必要对其进行深入学习。简介:STM32在片上集成的ADC外设非常强大。STM32F103xC、STM32F103xD和STM32F103xE增强型产品内嵌3个12位的ADC,每个ADC共用多达21个外部通道,可以实现单次或多次扫描转换。如STM32F103VET6,属于增强型的CPU,它有18个通道可测量16个外部和2个内部信号源。各通道的A/D转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行ADC的结果可以左对齐或右对齐方式存储在16位数据存器中,模拟看门狗特性允许应用程序检测输入电压是否超出用户定义的高/低

笔记:STM32——使用ADC通道采集端口电压数据

1、ADC的介绍ADC就是模数转换,就是将芯片的端口模拟量转化位数字量显示出来能够看得到这个比例值。转换类型分三种:1、逐次逼近型就是类似于二分查找法,当给定一个值然后与这个比较,大于这个值那么就是在这个值得以上到边界值,那么下一次比较就是在大于这个值到边界值得中间那个比较,然后在与这两个中间值比较。依次比较,直到找到这个值,这个算法复杂度在log2n。2、双积分型就是它先对输入采样电压和基准电压进行两次积分,以获得与采样电压平均值成正比的时间间隔,同时在这个时间间隔内,用计数器对标准时钟脉冲(CP)计数,计数器输出的计数结果就是对应的数字量。优点在于算出得值比较精准。3、电压频率转换型就是将

笔记:STM32——使用ADC通道采集端口电压数据

1、ADC的介绍ADC就是模数转换,就是将芯片的端口模拟量转化位数字量显示出来能够看得到这个比例值。转换类型分三种:1、逐次逼近型就是类似于二分查找法,当给定一个值然后与这个比较,大于这个值那么就是在这个值得以上到边界值,那么下一次比较就是在大于这个值到边界值得中间那个比较,然后在与这两个中间值比较。依次比较,直到找到这个值,这个算法复杂度在log2n。2、双积分型就是它先对输入采样电压和基准电压进行两次积分,以获得与采样电压平均值成正比的时间间隔,同时在这个时间间隔内,用计数器对标准时钟脉冲(CP)计数,计数器输出的计数结果就是对应的数字量。优点在于算出得值比较精准。3、电压频率转换型就是将

Redis 内幕 - 采样的 LRU 实现

有人知道基于RedisLRU的驱逐/删除的内部结构吗。Redis如何确保首先删除较旧(较少使用)的键(如果我们没有volatile键并且我们没有设置TTL过期时间)?我确定Redis有一个配置参数“maxmemory-samples”,它控制用于删除键的样本大小-所以如果你将样本大小设置为10,那么它会对10个键进行采样并从中删除最旧的这些。我不知道它是否完全随机地对这些key进行采样,或者它是否有某种机制允许它自动从“较旧/较少使用的一代”的等价物中进行采样? 最佳答案 这是我在antirez.com/post/redis-as-

Redis 内幕 - 采样的 LRU 实现

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重参数化技巧:高斯分布采样

1、高斯分布采样我们现在得到了有样本X得到的分布X~N(μ\muμ,σ\sigmaσ^2),通过采样我们得到确定的隐变量向量,从而作为解码器的输入。采样这个操作本身是不可导的,但是我们可以通过重参数化技巧,将简单分布的采样结果变换到特定分布中,如此一来则可以对变换过程进行求导。具体而言,我们从标准高斯分布中采样,并将其变换到X~N(μ\muμ,σ\sigmaσ^2),过程如下:ϵ\epsilonϵ~N(0,I)N(0,I)N(0,I)Z=μ+σ×ϵZ=\mu+\sigma×\epsilonZ=μ+σ×ϵ也就是说,从N(μ\muμ,σ\sigmaσ^2)采样ZZZ,等同于从ϵ\epsilonϵ~

ios - Metal (iOS) 中的多重采样/锯齿状边缘

我目前正在尝试绘制一个图形,该图形将在Swift中使用Metal进行动画处理。我已经成功地绘制了我的图形的单个框架。图形很简单,正如您从这张图片中看到的那样。我想不通的是如何对绘图进行多重采样。一般而言,似乎很少有关于Metal的引用,尤其是在Swift语法方面。self.metalLayer=CAMetalLayer()self.metalLayer.device=self.deviceself.metalLayer.pixelFormat=.BGRA8Unormself.metalLayer.framebufferOnly=trueself.metalLayer.frame=sel

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我目前正在尝试绘制一个图形,该图形将在Swift中使用Metal进行动画处理。我已经成功地绘制了我的图形的单个框架。图形很简单,正如您从这张图片中看到的那样。我想不通的是如何对绘图进行多重采样。一般而言,似乎很少有关于Metal的引用,尤其是在Swift语法方面。self.metalLayer=CAMetalLayer()self.metalLayer.device=self.deviceself.metalLayer.pixelFormat=.BGRA8Unormself.metalLayer.framebufferOnly=trueself.metalLayer.frame=sel